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发表于 2012-10-17 21:49
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回复 5# 80x86 / p( d4 @, v7 S/ g
t. }6 W( j1 f; C" ^/ T3 O, I
降电压到3.3V,屏幕无显示,仔细检查,发现是屏幕供电电压太低,罢工了。不过AVR那边,给屏幕的各个扫描信号还是对的。JTAG读ID和熔丝都是正常的。
5 D5 ^( R6 R& {
) h* w- r5 v9 @5 W( T; V
+ w5 e& A' {0 \. |2 g; `& i5 {- F9 T8 L5 o# G3 _5 c7 j# V
下面是之前做的一些,低电压or超频测试,仅供参考。
( O( D, q$ @% t1 q7 |. ^
5 t% ^8 Q: @! T" U/ C) vmega128-16AU,外部晶振14.7456M,CKOPT熔丝置位。供电取自STK500板子上的可调供电,AVR Dragon的JATG连到目标板,用于读取器件ID。; ], t/ r& W" O) Q% t$ M! G6 Q
电压降低到2.0V,翻转端口正常,还可以读取器件ID。
* m; l4 D7 ^. [电压降低到1.8V,翻转端口正常,已经读不到器件ID。
A6 p4 f. L6 x( ~* F- ?0 P$ a* ^# Q再往下就没测了。
2 T+ V; P: R3 o# I, Y* A1 @; p; Y( T1 X# b0 | V$ ~
3 O/ v! E9 ^# V7 R0 F+ L9 x. R
; L7 a9 x0 o8 K% ~$ {
: b2 k8 d" b/ g+ h5 S0 p奇怪的是,Mega16A和Mega32L的CKOPT如果置位,超频能力就大大降低,恰好与Mega128相反.8 P7 e3 g9 ~; i* j$ I9 ]
# N8 \: {- ?; v" y其实那个VFD的图片,就是外设的超频测试。MCU是Mega32L@24MHz 5V。
2 e' }2 `" r: D3 L, ^SPI只有1/2分频,工作正常。
* {* e; o, ?! G; yADC分频比较大,时钟应该很慢,正常。
( O; Z7 O8 W- I1 n0 x5 STWI不完全正常,实测总线速度在250K及以下是正常的,以上全都不正常。
/ c0 N! ]0 N3 r: q9 m/ F* PT/C0比较匹配中断,无分频,正常。
+ A$ @$ V3 l$ f' w' o9 d& f/ f7 q' OT/C2溢出中断,分频很大,正常。* }8 |% I5 ?5 D
T/C1,用作计数器,正常。
1 D# Y/ @; H9 m6 m9 W9 ]" A+ @& q9 o# S% o
以上均做过超过2周以上的7×24h测试,图片左下角,靠上的两个FF就是用来检测错误的,
3 W0 p) P$ ]& M7 s一旦有错误出现,数值会减一。
9 m# W) T# r5 c" y Q: A8 j! u/ a+ ^9 q% L
另:USART使用2M波特率,只测试了短时间,正常。 |
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