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楼主: zyh555
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新版晶体管测试器AVR-Transistortester

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发表于 2013-1-29 21:06 | 显示全部楼层
本帖最后由 zydl123 于 2013-1-29 21:25 编辑

这是别人测试电容的情况,1UF以下测不出ESR:
             Elkos                M3860           UT71D          Atmega
Low Esr 1000u F25v           -               959,2u        963,3u - Esr 0
Low Esr 470uF25v             -                438,2u        438,3u - Esr 0.05
            2200uF6.3v           -                2384u         2309u  - Esr 0.04
            1000uF6.3v          -                 1012u         983u   - Esr 0.05
            100uF25v            99,7u           99,6u          96,47u - Esr 0.76
            1uF50v               0,946u          1,018u        1027n (kein esr anzeige)
            22uF25v             20,68u          22,6u          22,42u - Esr 2.4
            47uF50v             43u               46,8u          46,25u - Esr 0.73

    Keramik/Folie
            100n                   96,6n           96,35n         97,40n
            1n                     0,976n           0,97n           0,968n
            47n                    49,4n            46,8n           48,25n
            22p                    0,022n             -                  -
发表于 2013-1-30 08:54 | 显示全部楼层
本帖最后由 wumaoxu 于 2013-1-30 09:07 编辑

回复 110# adsl_95


M88应该等大体同于M8吧,但是对二者的区别我不清楚,如果芯片资源不一样的话需要修改程序。
同样硬件原来程序偏大0.5倍左右,换用新程序后同一电容测量值接近标称数值。
发表于 2013-1-30 08:56 | 显示全部楼层
本帖最后由 wumaoxu 于 2013-1-30 09:05 编辑

回复 111# zydl123

偶英语也就是二把刀,德语么也不认识

先前翻译的测试仪的说明:
    15。可以对于2UF数值以上的电容器的等效串联电阻(ESR)电容值测量。分辨率为0.01欧姆和显示两位数数值。此功能要求至少16K闪存ATMEGA(ATmega168或ATmega328)。
发表于 2013-1-30 09:00 | 显示全部楼层
尝试翻译了一下makefile文件,大家可以直接替代原来的文件。
########################################################################################
# Makefile for the project TransistorTester   晶体管测试仪工程makefile文件 for yleee bbs
########################################################################################
## General Flags   通用标志
PROJECT = TransistorTester
TARGET = TransistorTester.elf
CC = avr-gcc
CPP = avr-g++
CFLAGS = -Wall
# ********************** 脛nderbare Flags zur Configuration des Transistortesters
# ********************** config options for your Semiconductor tester
# ********************** 半导体测试仪设置选项
# Every changing of this Makefile will result in new compiling the whole
# programs, if you call make or make upload.
# makefile文件的任何修改会在用make或make upload重新编译程序后起作用。
# Select your Part-No. for avrdude :
# 选择你的AVR单片机型号:
# atmega8  : m8
# atmega168: m168 or m168p
# atmega328: m328 or m328p
PARTNO = m8
# Select your language:
# 选择你的语言:
# Available languages are: LANG_ENGLISH, LANG_GERMAN, LANG_POLISH, LANG_CZECH, LANG_SLOVAK, LANG_SLOVENE,
#                          LANG_DUTCH, LANG_RUSSIAN
# 可选择的语言有:英语,德语,波兰语......
UI_LANGUAGE = LANG_ENGLISH
# The LCD_CYRILLIC option is necessary, if you have a display with cyrillic characterset.
# 如果你的显示器使用cyrillic字符集的话LCD_CYRILLIC选择是必须的。
# This lcd-display don't have a character for Ohm and for μ (micro).
# 这种LCD显示器没有Ohm和μ(micro)字符。
# Russian language requires a LCD controller with russian characterset and option LCD_CYRILLIC!
# 俄语需要有俄语字符集的LCD显示器和LCD_CYRILLIC选项!
#CFLAGS += -DLCD_CYRILLIC
# Option STRIP_GRID_BOARD selects different board-layout, do not set for standard board!
# STRIP_GRID_BOARD 选项用于不同的电路板布局,标准版勿用!
# The connection of LCD is totally different for both versions.
# 两者全部的区别在于LCD接线的不同。
#CFLAGS += -DSTRIP_GRID_BOARD
# The WITH_SELFTEST option enables selftest function (only for mega168 or mega328).
# WITH_SELFTEST 使能自检功能(只对mega168或mega328)
#CFLAGS += -DWITH_SELFTEST
# AUTO_CAL will enable the autocalibration of zero offset of capacity measurement and
# also the port output resistance values will be find out in SELFTEST section.
# AUTO_CAL 使能电容测量中零偏的自动校准而且将在自检中测出端口的输出电阻。
# With a external capacitor a additionally correction of reference voltage is figured out for
# low capacity measurement and also for the AUTOSCALE_ADC measurement.
# 通过外接电容可以算出参考电压修正值,用于小电容测量和AUTOSCALE_ADC 测量。
# The AUTO_CAL option is only selectable for mega168 and mega328.
# AUTO_CAL 只对mega168或mega328可用。
#CFLAGS += -DAUTO_CAL
# FREQUENCY_50HZ enables a 50 Hz frequency generator for up to one minute at the end of selftests.
# FREQUENCY_50HZ使能在自检结束时输出大约一分钟的50Hz信号。
#CFLAGS += -DFREQUENCY_50HZ

# The WITH_AUTO_REF option enables reading of internal REF-voltage to get factors for the Capacity measuring.
# WITH_AUTO_REF 使能读取内部参考电压来得到电容测量的系数。
CFLAGS += -DWITH_AUTO_REF
# REF_C_KORR corrects the reference Voltage for capacity measurement (<40uF) and has mV units.
# REF_C_KORR 修正电容测量(<40uF)的参考电压,单位是mV。
# Greater values gives lower capacity results.
# 越大的数值得出的电容容量越小。
CFLAGS += -DREF_C_KORR=4
# REF_L_KORR corrects the reference Voltage for inductance measurement and has mV units.
# REF_L_KORR 修正电感测量的参考电压,单位是mV。
CFLAGS += -DREF_L_KORR=50
# C_H_KORR defines a correction of 0.1% units for big capacitor measurement.
# C_H_KORR 定义大电容测量的修正值,单位是0.1%。
# Positive values will reduce measurement results.
# 正数将减少测量结果。
CFLAGS += -DC_H_KORR=5
# The WITH_UART option enables the software UART  (TTL level output at Pin PC3, 26).
# WITH_UART 使能软件串口输出 (TTL电平 Pin PC3, 26)
#CFLAGS += -DWITH_UART
# The CAP_EMPTY_LEVEL  defines the empty voltage level for capacitors in mV.
# CAP_EMPTY_LEVEL 定义电容的残留电压,单位是mV。
# Choose a higher value, if your Tester reports "Cell!" by unloading capacitors.
# 如果你的测试仪在对电容放电时报告“cell”可以选择更高的数值。
CFLAGS += -DCAP_EMPTY_LEVEL=4
# The AUTOSCALE_ADC option enables the autoscale ADC (ADC use VCC and Bandgap Ref).
# AUTOSCALE_ADC 使能ADC的自动调整(ADC使用VCC和能隙参考)
#CFLAGS += -DAUTOSCALE_ADC
#CFLAGS += -DREF_R_KORR=0
# The ESR_ZERO value define the zero value of ESR measurement (units = 0.01 Ohm).
# ESR_ZERO值定义ESR测量的零值(单位0.01欧姆)。
CFLAGS += -DESR_ZERO=29
# NO_AREF_CAP tells your Software, that you have no Capacitor installed at pin AREF (21).
# NO_AREF_CAP告诉软件你没有在AREF (21)安装电容。
# This enables a shorter wait-time for AUTOSCALE_ADC function.
# 这将使 AUTOSCALE_ADC 功能等待更短的时间。
CFLAGS += -DNO_AREF_CAP
# The OP_MHZ option tells the software the Operating Frequency of your ATmega.
# OP_MHZ告诉软件ATmega运行的频率。
OP_MHZ = 8
#OP_MHZ = 1
# The USE_EEPROM option specify where you wish to locate fix text and tables.
# USE_EEPROM 设定存放固定字符和表格的位置。
# If USE_EEPROM is unset, program memory (flash) is taken for fix text and tables.
# 如果 USE_EEPROM 未选,将用FLASH来存放固定字符和表格。
CFLAGS += -DUSE_EEPROM
# Setting EBC_STYPE will select the old style to present the order of Transistor connection (EBC=...).
# 设置 EBC_STYPE 将选择老风格的晶体管连接顺序(EBC=...)
# Omitting the option will select the 123=... style.  Every point is replaced by a character identifying
# type of connected transistor pin (B=Base, E=Emitter, C=Collector, G=Gate, S=Source, D=Drain).
# 省略选项将选择123=...格式。每一点将用一个字符指示晶体管管脚连接的类型(B=基极, E=发射极, C=集电极,
# G=栅极, S=源极, D=漏极)。
CFLAGS += -DEBC_STYLE

# The PULLUP_DISABLE option disable the pull-up Resistors of IO-Ports.
# PULLUP_DISABLE 禁用IO口的上拉电阻。
# To use this option a external pull-up Resistor (10k to 30k)
# from Pin 13 to VCC must be installed!
# 要使用该选项必需在13脚到电源间安装一个上拉电阻(10K-30K)。
CFLAGS += -DPULLUP_DISABLE
# The ANZ_MESS option specifies, how often an ADC value is read and accumulated.
# ANZ_MESS设定多久读取计算ADC的值。
# Possible values of ANZ_MESS are 5 to 200 .
# ANZ_MESS可能的数值是5到200.
CFLAGS += -DANZ_MESS=44

# The POWER_OFF option enables the power off function, otherwise loop measurements infinitely
# until power is disconnected with a ON/OFF switch (CFLAGS += -DPOWER_OFF).
# POWER_OFF使能自动关机功能,否则将循环测量下去直到电源开关断开。(CFLAGS += -DPOWER_OFF)
# If you have the tester without the power off transistors, you can deselect POWER_OFF .
# 如果你的测试仪没有关机晶体管,那么可以不选择POWER_OFF。
# If you have NOT selected the POWER_OFF option with the transistors installed,
# you can stop measuring by holding the key several seconds after a result is
# displayed. After releasing the key, the tester will be shut off by timeout.
# 如果你安装了晶体管但没有选择POWER_OFF,你可以在显示结果后按下按键几秒钟来停止测量。
# 按键释放后,测试仪会在超时后自动关闭。
# Otherwise you can also specify, after how many measurements without found part
# the tester will shut down (CFLAGS += -DPOWER_OFF=5).
# 另外你可以设定多少次测量没有发现元件后测试仪将自动关机(CFLAGS += -DPOWER_OFF=5)。
# The tester will also shut down with found part,
# but successfull measurements are allowed double of the specified number.
# 测试仪成功测试后也会关机,但是成功测试次数将会是设定数目的2倍。
#  You can specify up to 255 empty measurements (CFLAGS += -DPOWER_OFF=255).
#  你可以一直设定到255次空测试(CFLAGS += -DPOWER_OFF=255)。
#CFLAGS += -DPOWER_OFF=5
CFLAGS += -DPOWER_OFF
# Option BAT_CHECK enables the Battery Voltage Check, otherwise the SW Version is displayed instead of Bat.
# BAT_CHECK使能电池电压检测,否则将显示软件版本代替电池。
# BAT_CHECK should be set for battery powered tester version.
# 在电池驱动的测试仪版本应该选择BAT_CHECK。
CFLAGS += -DBAT_CHECK
# The BAT_OUT option enables Battery Voltage Output on LCD (if BAT_CHECK is selected).
# BAT_OUT使能在LCD显示电池电压(如果选择BAT_CHECK)。
# If your 9V supply has a diode installed, use the BAT_OUT=600 form to specify the
# threshold voltage of your diode to adjust the output value.
# 如果9V电源安装了一个二极管,用BAT_OUT=600来设定二极管的压降以调整输出数值。
# This threshold level is added to LCD-output and does not affect the voltage checking levels.
# 压降会加到LCD显示的数值上,但是不会影响电压检测电平。
CFLAGS += -DBAT_OUT=150
# To adjust the warning-level and poor-level of battery check to the capability of a
# low drop voltage regulator, you can specify the Option BAT_POOR=54 .
# 如果使用低压差稳压器,可以选择BAT_POOR=54调整电池容量检测的告警电平和无电电平。
# The unit for this option value is 100mV (0.1 Volt), 54 means a poor level of 5.4V.
# 该选项的单位是100mV(0.1v),54意味无电电平为5.4v。
# The warning level is 0.8V higher than the specified poor level (>5.3V).
# 告警电平比设定的无电电平高0.8V(>5.3V)。
# The warning level is 0.4V higher than the specified poor level (>2.9V, <=5.3V).
# 告警电平比设定的无电电平高0.4V(>2.9 <=5.3V)
# The warning level is 0.2V higher than the specified poor level (<=2.9V).
# 告警电平比设定的无电电平高0.2V(<=2.9V)
# Setting the poor level to low values is not recommended for rechargeable Batteries,
# because this increase the danger for deep discharge!!
# 对充电电池不建议无电电平设定到较低的数值,因为这会增加深度放电的危险。
CFLAGS += -DBAT_POOR=64


Makefile中文版.rar (6.04 KB, 下载次数: 622)
发表于 2013-1-30 10:56 | 显示全部楼层
回复  adsl_95


现在没用晶振,用的是内部的8M RC振荡,使用正常。
加晶振可以提高电容测量的精度。要 ...
wumaoxu 发表于 2013-1-29 10:34 https://www.yleee.com.cn/images/common/back.gif



    我的电路是使用单锂电的,用电路升压到8v左右稳压到5v__单锂直接升5V不行吗?同时再加个升50V的电压,用于稳压二极管的测试等
发表于 2013-1-30 13:02 | 显示全部楼层
回复 115# zydl123


   直接升压到5V电源的波纹不会很小吧?个人觉得不如二次稳压效果好。现在测量M8的电源电压是4.995V。
至于升压到50V测量二极管是个好主意。可以在升压的变压器上加绕一组线圈得到。好像M8的AD还空者一个。
我现在是在自制的稳压电源中加了个升压电路,升压到200V以上,测量稳压二极管和三极管的耐压不错,还可以借用电源的数字电压表头。
发表于 2013-1-30 19:30 | 显示全部楼层
回复 112# wumaoxu


其实有一个蠢想法.......用24c12如何?
百度下,容量好像是12k...........M88 8K+12K=16K.................
好吧,蠢爆了..............................
不行我M8用用完了,反正也就测个MOS和三极管,要啥完美啊,反正ESR也不准.............



我只知道M8和M16是同系列的,M48,M88,M168等是同一系列.........
引脚方面M8和M88兼容,M16和M168兼容.......M48和其他的没研究过...........
但既然是同系列代码理论上通用..............
编程方面屁都不懂,英语就是小白等级.................
发表于 2013-1-30 19:35 | 显示全部楼层
今天刚刚下单买了5片328。
发表于 2013-1-31 12:40 | 显示全部楼层
回复  zydl123


   直接升压到5V电源的波纹不会很小吧?个人觉得不如二次稳压效果好。现在测量M8的电源 ...
wumaoxu 发表于 2013-1-30 13:02 https://www.yleee.com.cn/images/common/back.gif



    高频纹波对数字电路影响极小,而这种纹波用一般的稳压IC无法解决,不如加电感和电容,这里影响它的精度是2.5V基准.
发表于 2013-1-31 14:57 | 显示全部楼层
高频纹波对数字电路影响极小,而这种纹波用一般的稳压IC无法解决,不如加电感和电容,这里影响它的精 ...
zydl123 发表于 2013-1-31 12:40 https://www.yleee.com.cn/images/common/back.gif



  这玩意不要要求太高,期望太高。

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