请教关于avr内部模拟比较器的使用

benxiong22 · 发表于 2017-4-21 12:29

我有这么一个需求，mcu检测外部电压，当电压值超过某个阈值的时候，mcu就输出控制电平。
这里面有两点考虑，一是比较阈值可以调整。二是反应尽可能的快，所以我想是不是用中断处理会比较快。
查到avr里有个模拟比较器，同相端接待检测电压，反相端接比较基准，比较器翻转可触发中断。但是好像它要么配置成内部1.23v的基准，要么接外部基准。接内部基准没办法调整比较的阈值，接外部基准也没法用软件修改比较阈值。
请教，有其他较好的办法吗？

dgpower · 发表于 2017-4-21 12:45

接内部基准没办法调整比较的阈值

当局者迷啊

内部基准不能调，可以调外部电压的采样电路嘛。比如串一个可调电阻在外部电路里面作为分压器，调整可调电阻改变外部电压到MCU的监测端，再和内部基准比较，这样可以吗？

benxiong22 · 发表于 2017-4-21 12:52

dgpower 发表于 2017-4-21 12:45
接内部基准没办法调整比较的阈值

当局者迷啊

这样就不能实现我讲的第二条了，不能软件设置比较阈值

benxiong22 · 发表于 2017-4-21 12:59

其实我想了一下，假设8兆晶振，所有代码循环一遍用时还是ms级别，所以用adc采集再和基准数据比较，反应速度也是够的。
有些概念不是很清楚，如果主程序里放了一条delay 1s的代码，是否两次adc采集至少间隔1s以上了？如果是这样的话，速度那就不行了。
那可不可以用定时中断去调用adc，这样就不会受主程序里其他delay的影响了吧？

benxiong22 · 发表于 2017-4-21 13:06

dgpower 发表于 2017-4-21 12:45
接内部基准没办法调整比较的阈值

当局者迷啊

你那是硬件上调电位器实现的，我需要的是软件菜单里调整

dgpower · 发表于 2017-4-21 13:08

是的，我说的确实不能实现软件调整
确实如你所说，用delay（）语句是不行的。用定时中断是个好方法。定时到了就自动执行你指定的读取ADC，比较，如果没有问题就返回正常程序。

不知道你要的反应尽可能的快，要快到啥程度。比如，如果是要做电压质量监测仪（谐波测量），这种是要求挺高的，因为可能要测量到7次谐波（7*50=350Hz，根据采样定律就至少2倍采样到700Hz，实际要做到1KHz才保险）

dgpower · 发表于 2017-4-21 13:17

还有，如果MCU有PWM输出，也可以利用控制PWM输出（滤波成直流电压）来与输入电压做比较，这样也行

MOWEIWEI · 发表于 2017-4-21 13:18

写程序需要delay 代码吗?
需要设计多快的响应，“尽量要快"？有这种需求吗？这个可以量化吗？每个人心中的尽量快具体值是多少。
不是什么都要用中断那么稀缺的资源来做吧。

more · 发表于 2017-4-21 14:14

第一种方案：可以考虑用数字电位器的可调端作为参考电压，这样参考电位是可调的，而且受单片机控制。
第二种方案：单片机产生PWM信号，滤波后作为参考电压，这样程序稍复杂点。

benxiong22 · 发表于 2017-4-21 15:27

dgpower 发表于 2017-4-21 13:17
还有，如果MCU有PWM输出，也可以利用控制PWM输出（滤波成直流电压）来与输入电压做比较，这样也行

这种方法也考虑过，但需要多占用一个io

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