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发表于 2012-10-17 21:49
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回复 5# 80x86
* _$ x7 \3 t0 I3 D) `. |! h' R( s1 |5 m' w2 S; {
降电压到3.3V,屏幕无显示,仔细检查,发现是屏幕供电电压太低,罢工了。不过AVR那边,给屏幕的各个扫描信号还是对的。JTAG读ID和熔丝都是正常的。
% c; B, ^7 {! H. r* W
) N8 M! E# U: B4 l1 i$ [& B. f3 W" k
9 z! d/ f. h9 N( p9 D' {% h( q5 W2 }
' _/ K( p' r/ O; I. L7 Q
下面是之前做的一些,低电压or超频测试,仅供参考。
L. \# O* M8 F2 o# U* O8 z' r9 n( ^, v
mega128-16AU,外部晶振14.7456M,CKOPT熔丝置位。供电取自STK500板子上的可调供电,AVR Dragon的JATG连到目标板,用于读取器件ID。
5 Z M/ D- _( D8 T8 x电压降低到2.0V,翻转端口正常,还可以读取器件ID。
) g' y* \/ _9 q电压降低到1.8V,翻转端口正常,已经读不到器件ID。 - @4 z) N- z: \- z; i$ N& c5 {/ V
再往下就没测了。, l' }) _( g9 _
7 L% a5 \4 ?3 T
. q& Q5 |' u% j
0 i: W) V5 D- T z
: m! ]2 c# U( u9 s/ [' M; `奇怪的是,Mega16A和Mega32L的CKOPT如果置位,超频能力就大大降低,恰好与Mega128相反.
0 E: {7 J x" Q- E) y E2 a- q2 B( \. C! B, x+ O5 r
其实那个VFD的图片,就是外设的超频测试。MCU是Mega32L@24MHz 5V。
) P$ h5 y1 v% E& v8 \0 ~SPI只有1/2分频,工作正常。4 w( o+ p* m/ O) l; T
ADC分频比较大,时钟应该很慢,正常。
9 Z2 B" J0 t, c3 }7 S4 ETWI不完全正常,实测总线速度在250K及以下是正常的,以上全都不正常。9 B0 U% p, g. k9 U+ y0 g0 ~7 o
T/C0比较匹配中断,无分频,正常。
! x5 [5 h0 V; b0 zT/C2溢出中断,分频很大,正常。/ ~6 V# j9 n; `" Y3 b
T/C1,用作计数器,正常。
$ S/ r7 R% e& J
6 x/ F0 v' K$ s& m以上均做过超过2周以上的7×24h测试,图片左下角,靠上的两个FF就是用来检测错误的,& ^6 l: A: n4 }) d/ r5 v
一旦有错误出现,数值会减一。
; {& A" e3 V! g$ ^, t6 }) x$ g1 d: ]5 O: u( h ]
另:USART使用2M波特率,只测试了短时间,正常。 |
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