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发表于 2012-10-17 21:49
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回复 5# 80x86 ; J% j/ m0 U* X: D2 y$ n
( a" e& L; I! I' A8 h4 B3 b
降电压到3.3V,屏幕无显示,仔细检查,发现是屏幕供电电压太低,罢工了。不过AVR那边,给屏幕的各个扫描信号还是对的。JTAG读ID和熔丝都是正常的。5 `# j- k( q/ r/ f y7 B& U$ J. W
6 E% q5 `9 {2 _5 M2 a$ o( ~# ?2 b' Z/ [, l. J
3 b" f9 d' D: k: {5 e* t0 U下面是之前做的一些,低电压or超频测试,仅供参考。
" I6 ~5 V6 h8 u7 X
- ]* }" e, X. O8 S( vmega128-16AU,外部晶振14.7456M,CKOPT熔丝置位。供电取自STK500板子上的可调供电,AVR Dragon的JATG连到目标板,用于读取器件ID。
3 V, ]" Y* L7 M; P& Q( v1 }电压降低到2.0V,翻转端口正常,还可以读取器件ID。
4 [. d; l w, Q+ m电压降低到1.8V,翻转端口正常,已经读不到器件ID。
0 S' o8 a8 W, Z! \6 o8 B7 j再往下就没测了。
. r: z6 E. Y5 u2 b7 G# q
; [3 @4 `6 R8 u5 N. [# x$ R' O. u" y. F* F' i7 M+ K) \, s
5 E! ]; j, i6 W$ m/ I
0 L+ U% w. w9 ]& s4 c奇怪的是,Mega16A和Mega32L的CKOPT如果置位,超频能力就大大降低,恰好与Mega128相反.: ]9 T2 Y) B4 ]4 }
8 x$ o5 O6 A3 {3 Z其实那个VFD的图片,就是外设的超频测试。MCU是Mega32L@24MHz 5V。
4 |7 A- C* b' h( ~# qSPI只有1/2分频,工作正常。5 ^9 x/ j, B" t; |) w9 c' O
ADC分频比较大,时钟应该很慢,正常。) K! b0 x+ s# V
TWI不完全正常,实测总线速度在250K及以下是正常的,以上全都不正常。
' C; T9 N U" uT/C0比较匹配中断,无分频,正常。) U/ s& C! R: v/ n- O4 B& C6 L8 J3 g5 t
T/C2溢出中断,分频很大,正常。
; d1 `. w9 Z0 I9 ^) BT/C1,用作计数器,正常。0 p( O0 w1 J# z. Y' ^
( N* P; o# X- G, N* a7 Z
以上均做过超过2周以上的7×24h测试,图片左下角,靠上的两个FF就是用来检测错误的,$ L0 @5 C+ Z& z0 w9 ~* r! z
一旦有错误出现,数值会减一。
8 n1 }) s7 v* b* L8 o. `4 F* a* T) j
另:USART使用2M波特率,只测试了短时间,正常。 |
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