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发表于 2012-10-17 21:49
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回复 5# 80x86 0 c0 z' S* F- }) \$ |1 f( V1 K# m
) c8 U% Z# Y3 S, s* r
降电压到3.3V,屏幕无显示,仔细检查,发现是屏幕供电电压太低,罢工了。不过AVR那边,给屏幕的各个扫描信号还是对的。JTAG读ID和熔丝都是正常的。$ G0 m- q( j. o2 ~
8 Z) m* a5 a: f( b4 I' p
4 `& k: a9 z9 F# c( H) n, r
4 [( ^3 e- b7 C5 g下面是之前做的一些,低电压or超频测试,仅供参考。0 ?8 d E4 P2 ]% Y
. h0 s! R2 t4 c, U* B& D
mega128-16AU,外部晶振14.7456M,CKOPT熔丝置位。供电取自STK500板子上的可调供电,AVR Dragon的JATG连到目标板,用于读取器件ID。
; b& s7 b3 r1 Z& y电压降低到2.0V,翻转端口正常,还可以读取器件ID。- d* g# z7 B% b( V) C3 ^1 v
电压降低到1.8V,翻转端口正常,已经读不到器件ID。
! u$ w) r, y$ H z1 w( u: Q3 F; P再往下就没测了。
" a" H* m0 \* Z' Z8 r4 l6 K( m5 O; g& i' a
0 B6 k4 x5 I" K( j. w7 d1 W% @
% d4 \+ o; r" O9 U# Z( ^- Q, ]. ~/ X. ~: m6 X) F$ x. c
奇怪的是,Mega16A和Mega32L的CKOPT如果置位,超频能力就大大降低,恰好与Mega128相反.1 ]( x( g1 l# x) R. M
- R0 H8 q/ ~, V, |' f8 Z& G0 V3 ]1 P
其实那个VFD的图片,就是外设的超频测试。MCU是Mega32L@24MHz 5V。, U( E# h7 f% A5 h3 [" i+ e
SPI只有1/2分频,工作正常。$ {- Y$ r8 m8 j; q# o$ @
ADC分频比较大,时钟应该很慢,正常。
& Y" B- E4 k, I2 u5 r' Z6 ^TWI不完全正常,实测总线速度在250K及以下是正常的,以上全都不正常。2 z' J7 e4 j; }) @
T/C0比较匹配中断,无分频,正常。6 `4 W8 C. m: w4 b5 y: o
T/C2溢出中断,分频很大,正常。
* \4 Y6 U! s; D- K9 s6 NT/C1,用作计数器,正常。1 P) G; S# T% g. f6 x+ x
6 ~5 n2 Z% c7 q; T8 n6 Y' r以上均做过超过2周以上的7×24h测试,图片左下角,靠上的两个FF就是用来检测错误的,
# |1 b9 P3 U8 T/ I6 t4 F一旦有错误出现,数值会减一。
! q4 q) t2 x" L% W& [+ D: z5 e6 n5 e
另:USART使用2M波特率,只测试了短时间,正常。 |
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