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发表于 2012-10-17 21:49
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回复 5# 80x86 3 {' h% h3 I. ^& Q" o+ z/ R0 E& _
4 t' n5 L3 D3 I v( Z4 R
降电压到3.3V,屏幕无显示,仔细检查,发现是屏幕供电电压太低,罢工了。不过AVR那边,给屏幕的各个扫描信号还是对的。JTAG读ID和熔丝都是正常的。- p/ ]. s, R# a' I0 P" ?
! ^& {7 Y: E! S0 G# ^0 Q
5 q( Z8 x. e# I v+ k* Q$ X& F9 }5 }% m- f( T( }
下面是之前做的一些,低电压or超频测试,仅供参考。+ q; e; y, |, Z
1 n- U. |1 g+ h% {" L! M
mega128-16AU,外部晶振14.7456M,CKOPT熔丝置位。供电取自STK500板子上的可调供电,AVR Dragon的JATG连到目标板,用于读取器件ID。
4 G( {" a; @4 b7 D: u; s, m电压降低到2.0V,翻转端口正常,还可以读取器件ID。
! R5 m* l( J% s" v电压降低到1.8V,翻转端口正常,已经读不到器件ID。 7 H; B$ S& n: T4 `
再往下就没测了。% P' g1 q i$ b% l
4 G! U! Q5 \% C7 {) z2 n
. q9 u# ?! h. W& i* @4 R! G- \6 t+ y, d* j8 @" Z
& l) Q* X" E0 B( G4 e* V: T$ r奇怪的是,Mega16A和Mega32L的CKOPT如果置位,超频能力就大大降低,恰好与Mega128相反.# a, q9 n" u) j" M7 t0 [& x& {# A, {
) I# P. F3 e) K1 Q2 \1 j
其实那个VFD的图片,就是外设的超频测试。MCU是Mega32L@24MHz 5V。$ |! [1 ?4 C' N8 X9 p
SPI只有1/2分频,工作正常。* m- v5 M1 }: {2 Q% B- M+ v
ADC分频比较大,时钟应该很慢,正常。
$ U6 A! p; Z1 D+ N1 wTWI不完全正常,实测总线速度在250K及以下是正常的,以上全都不正常。
; I, M7 _& [: f# u6 ^T/C0比较匹配中断,无分频,正常。
9 N8 B6 G- X3 }. y$ M6 J; e' xT/C2溢出中断,分频很大,正常。
6 r. N1 z% e6 R7 ~1 h. c# MT/C1,用作计数器,正常。
- `8 L9 v n: Q% |% V5 d/ d* w7 f: p7 `
以上均做过超过2周以上的7×24h测试,图片左下角,靠上的两个FF就是用来检测错误的,- t- W! {# ^) h1 F: n2 O* U
一旦有错误出现,数值会减一。8 Q1 f7 }" y, N x6 k7 B M3 B2 I
6 C# u/ I: F3 c Z. T0 g5 l* Z5 w0 F另:USART使用2M波特率,只测试了短时间,正常。 |
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