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发表于 2012-10-17 21:49
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回复 5# 80x86 1 O. M9 J6 e" y2 g& I
% I9 u$ ]' R' v6 W: r
降电压到3.3V,屏幕无显示,仔细检查,发现是屏幕供电电压太低,罢工了。不过AVR那边,给屏幕的各个扫描信号还是对的。JTAG读ID和熔丝都是正常的。
: ^# s$ u' o$ h4 R b
. R$ _7 Z; Y5 ?% S9 H, z6 X3 O
! X5 W) G& B2 G2 K" N
' Y5 U$ j! w4 y6 d下面是之前做的一些,低电压or超频测试,仅供参考。
3 n1 ~- v+ G1 R) J8 |3 _1 }" y: x- u! [" ~8 b; J! I& }* H% u
mega128-16AU,外部晶振14.7456M,CKOPT熔丝置位。供电取自STK500板子上的可调供电,AVR Dragon的JATG连到目标板,用于读取器件ID。 `' @9 X; l& ]# q9 Y7 Q: w4 S7 U
电压降低到2.0V,翻转端口正常,还可以读取器件ID。0 d0 z) }/ e) N& M7 d5 U" Q
电压降低到1.8V,翻转端口正常,已经读不到器件ID。 6 @' t& r5 }4 t% V% k5 h2 z
再往下就没测了。
1 h) q2 s+ b/ k) k) m& p6 p3 @0 o9 [
" _) r" c/ B# {( e8 Z1 n/ P
8 s1 x: i: _- p4 t8 G4 ?: x
' w7 [ y `- z, U3 V( C
奇怪的是,Mega16A和Mega32L的CKOPT如果置位,超频能力就大大降低,恰好与Mega128相反., ~+ [- Z7 e6 ]- C
, k4 ^) ^7 k; I% d( E0 \6 m其实那个VFD的图片,就是外设的超频测试。MCU是Mega32L@24MHz 5V。
0 t1 W; k; `- ^7 X: F; _SPI只有1/2分频,工作正常。! ~8 N' a& {8 B9 O- m f0 ^
ADC分频比较大,时钟应该很慢,正常。
/ E4 X+ _8 M g- w+ e; B! Z- zTWI不完全正常,实测总线速度在250K及以下是正常的,以上全都不正常。
2 ^6 S6 v8 Y; o+ w0 a9 a% O% ] vT/C0比较匹配中断,无分频,正常。
( `: Z5 T$ p6 v }T/C2溢出中断,分频很大,正常。
: d" Y& t: T' j# V+ P) G( qT/C1,用作计数器,正常。
! f$ e! A7 M, }% l) [5 i) g" N( D3 ]6 X6 E' h0 O' P
以上均做过超过2周以上的7×24h测试,图片左下角,靠上的两个FF就是用来检测错误的,
- N& x3 I6 y- M# }% w0 V& _一旦有错误出现,数值会减一。
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: ^5 ~/ {& J3 a8 p; ?9 I另:USART使用2M波特率,只测试了短时间,正常。 |
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