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发表于 2012-10-17 21:49
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回复 5# 80x86 3 `! C; m0 u* U7 D$ m* J8 f- v
3 @0 g* L! Z) w% ~8 a" n
降电压到3.3V,屏幕无显示,仔细检查,发现是屏幕供电电压太低,罢工了。不过AVR那边,给屏幕的各个扫描信号还是对的。JTAG读ID和熔丝都是正常的。
' {# P/ X& d" H
) Q2 K O6 G& s# b( J( z
p! l/ H! y5 W% k$ G! C: L
; r6 Y* O$ S/ N+ b2 G0 y下面是之前做的一些,低电压or超频测试,仅供参考。& j) m4 F5 Z0 V* t# p( g
. z, r8 f7 k1 k Smega128-16AU,外部晶振14.7456M,CKOPT熔丝置位。供电取自STK500板子上的可调供电,AVR Dragon的JATG连到目标板,用于读取器件ID。! F+ w9 h# u/ z1 T2 s" u5 K9 m) N
电压降低到2.0V,翻转端口正常,还可以读取器件ID。2 V8 q+ t, R6 d7 R3 C# ]0 @5 D
电压降低到1.8V,翻转端口正常,已经读不到器件ID。 . n8 X! {+ i$ v% z
再往下就没测了。7 B M# g/ a& j, t' d& j# M, t8 ~
3 O& o/ v% w" K+ o6 R
, T' y# S( n$ P |2 {, Z
* U# ~8 t. V9 L, E- v& b
, e: d0 }6 ^1 w3 d4 R奇怪的是,Mega16A和Mega32L的CKOPT如果置位,超频能力就大大降低,恰好与Mega128相反.. {- x* j) X: J% Y( m
" U% y( b+ v/ D& w2 t" H, I @9 x其实那个VFD的图片,就是外设的超频测试。MCU是Mega32L@24MHz 5V。1 n: D5 g2 C: a2 l! W& {4 B" q; U
SPI只有1/2分频,工作正常。' x: T9 x; e. W) o
ADC分频比较大,时钟应该很慢,正常。; f/ y. B# F, O! M; f
TWI不完全正常,实测总线速度在250K及以下是正常的,以上全都不正常。
! }9 _0 \( f9 N& }% ]T/C0比较匹配中断,无分频,正常。; X0 ?. A0 D# p6 V- ]
T/C2溢出中断,分频很大,正常。6 j5 a; p( Q8 r, w
T/C1,用作计数器,正常。9 y2 V5 ^# }0 u: N
7 ~% }* J: x1 A以上均做过超过2周以上的7×24h测试,图片左下角,靠上的两个FF就是用来检测错误的,
: m" x' p+ I* [2 N一旦有错误出现,数值会减一。$ r$ @7 f8 d! P% z2 b! x
" J, U6 a- i! {
另:USART使用2M波特率,只测试了短时间,正常。 |
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