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发表于 2012-10-17 21:49
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回复 5# 80x86 1 ?0 ?* g7 O( F6 t6 S* A4 g
, [* f: U% m P4 M5 \* A0 b! ~! U7 L降电压到3.3V,屏幕无显示,仔细检查,发现是屏幕供电电压太低,罢工了。不过AVR那边,给屏幕的各个扫描信号还是对的。JTAG读ID和熔丝都是正常的。
9 j0 z( @9 ~; D, K2 T
. w+ H4 H: p- _, u: G" R; V
- b; T$ y% Q$ {3 B+ u& w5 a i; I+ t
下面是之前做的一些,低电压or超频测试,仅供参考。% {* Y& K, f& @* h u2 U
8 m! \: W. e- I Wmega128-16AU,外部晶振14.7456M,CKOPT熔丝置位。供电取自STK500板子上的可调供电,AVR Dragon的JATG连到目标板,用于读取器件ID。
; F/ ]' t- \, h2 R) @. Y u电压降低到2.0V,翻转端口正常,还可以读取器件ID。' N6 N8 H, _; E* C( M( e
电压降低到1.8V,翻转端口正常,已经读不到器件ID。 + M( j( d) t. R/ K( b5 c
再往下就没测了。3 ~7 O6 @! s- M, F8 z
4 Y3 R. q0 R9 U- F8 u, q
! h8 x6 U @, ^; P0 w8 r7 z0 m6 ~$ w- e: o' `% W0 S3 L, m
7 V1 \7 _: E) K$ J* A) g$ r/ C8 }0 ~奇怪的是,Mega16A和Mega32L的CKOPT如果置位,超频能力就大大降低,恰好与Mega128相反.; j! W) J9 }& ]* |5 l' g' e
, g5 k- y1 z/ u& j& r) Z
其实那个VFD的图片,就是外设的超频测试。MCU是Mega32L@24MHz 5V。: J2 X, }3 y. G. r( V* `% P3 Q
SPI只有1/2分频,工作正常。0 h0 V8 N/ v T% z
ADC分频比较大,时钟应该很慢,正常。" H5 Z5 |4 f4 A5 a8 s2 q8 r3 @7 Q
TWI不完全正常,实测总线速度在250K及以下是正常的,以上全都不正常。
0 A" w& g' ^9 rT/C0比较匹配中断,无分频,正常。( h) W, O$ ~% V8 F
T/C2溢出中断,分频很大,正常。& q+ Q4 f/ z3 K' A# N/ Z
T/C1,用作计数器,正常。
. _# b" S) n9 y8 A8 u3 w$ C
1 Y# I( P/ `( w( a2 N以上均做过超过2周以上的7×24h测试,图片左下角,靠上的两个FF就是用来检测错误的,7 H* z& U8 v5 [, y
一旦有错误出现,数值会减一。3 s; t8 O" A; F
0 G4 w4 J3 W. d0 G) Y& S, O
另:USART使用2M波特率,只测试了短时间,正常。 |
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