stm32怎么学

junyee

hotdll 发表于 2017-1-31 17:09
F版新年快乐，F版能提供下正交采样相关的资料么？

另外一个不解的是：10倍的ADC采样，如果是100K，也 ...

挖坟大王你好.

fujiachun

hotdll 发表于 2017-1-31 17:09
F版新年快乐，F版能提供下正交采样相关的资料么？

另外一个不解的是：10倍的ADC采样，如果是100K，也 ...

我手头也没有更具体的资料，有资料介绍有两种方法，一个是傅里叶变换，一个是移相，如果是做LCR，还是移相比较快，使采样的点在同步在某轴的最高点上，然后用除法可以得到另外一轴的投影，由此根据相角可以得到这个矢量值。

hotdll

fujiachun 发表于 2017-1-31 18:32
我手头也没有更具体的资料，有资料介绍有两种方法，一个是傅里叶变换，一个是移相，如果是做LCR，还是移 ...

我昨晚花了几小时时间查了下，最后找到一本书《信号与系统》--奥本海姆，我发现用数字处理至少有3种方案。这几天海补信号处理的知识。

除了您上面说的方法，还可以利用卷积的方法：把测量的信号值叠加到 基准参考坐标（乘DAC对应的正弦值，因为是同步测量，自由轴，所以不必非要初始相位相等）上，然后再计算。

还有一种方法是可以类似用数字模拟开关鉴相器，这样可以只测量1次，就能获得0-360度范围内的任意相位值（采样率足够）。

用正交采样的办法，是不是只需要采样2次，就能完成任意频率处理？我发现这种方法的测量测试最少，硬件需求最低。

其实我一直在纠结一件事：
100KHZ的uV-mV级信号，是转成dc处理精度高，还是直接放大到V级的100KHZ信号处理精度高？

fujiachun

hotdll 发表于 2017-2-1 10:05
我昨晚花了几小时时间查了下，最后找到一本书《信号与系统》--奥本海姆，我发现用数字处理至少有3种方案 ...

信号处理是极其复杂，我的水平实际难勘皮毛。我建议是先放大然后再处理，信号幅度越小，引入的外界噪声越大，同时在ADC采样的时候adc本身的输入阻抗和噪声对信号的影响就越大，越接近ADC的上限，噪声和线性越小。lcr本身是矢量采样，所以放大器本身的精度反而影响不大，唯独需要注意不同放大倍数引起的移相可能对结果造成比较大的差异。

hotdll

fujiachun 发表于 2017-2-1 21:11
信号处理是极其复杂，我的水平实际难勘皮毛。我建议是先放大然后再处理，信号幅度越小，引入的外界噪声越 ...

我也是担心不同增益的相移问题，
方案1：如果先将前端信号放大10倍，然后模拟鉴相转成直流，就没有相移的烦恼，也不需要做增益校准了。缺点是不能数字处理了，测量需要测量8次。好处是对运放的要求极地，LMV358，SGM8554就可以满足。

方案2：全部交流放大，数字混频正交变换处理，优点是不需要滤波部分，节省外围电路。缺点是100KHZ的情况下，对增益带宽积要求很高，合适的运放不好找，比较纠结。另外数字处理对MCU要求也比较高，基本上都是三角函数变换，估计也挺费CPU的。

方案3：用STM32F303系列，这个基本上配合外部1到2片运放就可以无外围了。缺点是，，，，有点贵。

fujiachun

我倾向第三方案，外围越简单越好，芯片贵点但是其他的综合起来不一定贵。放大器的相移可以使用同步采样，我看过一篇文章，就是利用放大后的信号产生同步信号来做检波，曾经发在一乐过，是一个成品电桥的文章，不过我自己都没有找到。运放好像不是很难选，成品电桥的输出是300mv和1000mv配合档位的选择尽量把采样电压提高，运放的增益不用太高。如果有条件考虑PGA可能更好。不过现在的电桥都是向DSP方向发展，DSP我不熟，不知道成本如何。

hotdll

fujiachun 发表于 2017-2-4 20:54
我倾向第三方案，外围越简单越好，芯片贵点但是其他的综合起来不一定贵。放大器的相移可以使用同步采样，我 ...

我打算用全数字方案了，暂时手里有的原件是STM8L151K4，就用这个 MCU了。

运放的相移问题，我设计了一种算法，可以精确的测得运放不同增益下的相移差，并且可以实现全自动校准。

不打算使用模拟鉴相器了，速度太慢，新的方法，可以每秒钟测量上百次，我在做第三版试试。