基于MCU的低成本智能多用表初探

wxh2000 · 发表于 2020-8-5 18:11

本帖最后由 wxh2000 于 2021-8-18 00:05 编辑

基于目前流行的智能万用表及晶体管测试仪等特色，设计了一个基于MCU的智能多用表方案，其特点是：被测量或器件的设别能自动进行，元器件很少。考虑到成本问题及便于制作等因素，指标不会很高。现在是概念性的，方案还比较简陋。请有兴趣的坛友多提意见，以便后续完善。基本指标如下（具体细节运行模拟文件可以评估）：
电压：AC/DC 0~400V
电阻：0~40M
电容：1pF~40mF
电感：10uH~40H
二极管：正向压降（0.1V~3.2V）
下图是模拟运行的示意图：
BAT_1.5V.PNG

目前项目已完成，下图是完成项目后的外观情况：

kenson · 发表于 2020-8-6 13:30

不错哦！大力支持

donglele2005 · 发表于 2020-8-6 20:09

好东西顶起来 ~~

Aaron · 发表于 2020-8-7 13:36

好东西，电路简单，功能实用，方便仿制，要是精度能高点的话就更好了哈

灰灰的丝丁鱼 · 发表于 2020-8-7 19:31

这个二极管正向压降这么低，测LED都测不了了

wxh2000 · 发表于 2020-8-8 00:55

谢谢各位建议，
1. 关于精度，受10位ADC的影响，采用过采样方式可以做到16位没有问题。但随之而来的非线性严重，需要采用非线性校正技术；
2. 采用过采样及非线性校正后，可以比较好地达到1/2000分辨率水平，且有较好的线性。不过这是仿真取得的结果；
3. led的正向压降根据不同的发光颜色，压降在1.1V~3.2V之间，如系统电压采用5V的话，调整二极管正向电压范围没问题；

sln.1550 · 发表于 2020-8-9 10:39

敢问楼主用的MCU是啥？我用过M8，过采样的区间内线性非常差，+2bit应该是极限了，不知道能超采样到16bit的是什么片子。

wxh2000 · 发表于 2020-8-9 12:54

sln.1550 发表于 2020-8-9 10:39
敢问楼主用的MCU是啥？我用过M8，过采样的区间内线性非常差，+2bit应该是极限了，不知道能超采样到16bit的 ...

你好，以下几点供参考，
1. 对AVR MCU没有特殊要求。因代码量大的原因，我这里选择M644（有时间的话可以精简代码，争取用M328），M8内的ADC和M644是一样的；
2. 关于过采样，理论上>2^N（其中，N是采样次数）的要求就可达到N位分辨率。但实际应用中，采用次数应取N的10倍以上，过采样的最大问题是非线性严重；
3. 对付非线性问题，建议可以找一下过采样后值的变化规律，从而可以用曲线拟合来加以解决；

my1048 · 发表于 2020-8-9 16:00

关注后续。。。。

一家人 · 发表于 2020-8-11 08:45

支持，关注！

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